1）主要技術參數：

2中心波長精度：優于±1nm；

2峰值波長精度：優于±1nm；

2光譜帶寬測量精度：優于±0.5nm；

2相對光譜響應度測量精度：優于±2%；

2非均勻性標定誤差：優于±1%；

2像素不均勻性測量精度：1%；

2）應用領域：

2線/面陣/TDI CCD以及CMOS等陣列光電探測器的光譜/輻射響應性能測試和標定。

3）成功應用案例：

2中科院新疆某研究所

2航天某院某研究所

2西北某大學

4）產品實物圖片：

↑↑ 航天某院某所敏感器大面陣CCD關鍵參數測量系統實物圖片

↑↑ 中科院新疆某研究所CCD光電參數測試設備實物圖片

↑↑ 紅外探測器光譜響應測試系統原理/結構圖

↑↑ 紅外探測器光譜響應測試系統實物圖片